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Approximations for wo-Dimensional Variable Window Scan Statistics / Jie Chen

Público ISBD en Scan Statistics / Joseph Glaz Título : Approximations for wo-Dimensional Variable Window Scan Statistics Tipo de documento: capítulo Autores: Jie Chen, autor ; Joseph Glaz, autor Número de páginas: pp. 109-128 en Scan Statistics / Joseph Glaz Approximations for wo-Dimensional Variable Window Scan Statistics [capítulo] / Jie Chen, autor ; Joseph Glaz, autor . - [s.d.] . - pp. 109-128.

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Scan Statistics / Joseph Glaz

Público ISBD Título : Scan Statistics : Methods and Applications Tipo de documento: libro Autores: Joseph Glaz, editor ; Vladimir Pozdnyakov, editor ; Sylvan Wallenstein, editor Editorial: Boston : Birkhauser Fecha de publicación: 2009 Colección: Statistics for Industry and Technology Número de páginas: xxviii, 391p Nota general: ISBN 978-0-8176-4748-3. Incluye referencias bibliográficas e índice. Clasificación: 519.53 Scan Statistics : Methods and Applications [libro] / Joseph Glaz, editor ; Vladimir Pozdnyakov, editor ; Sylvan Wallenstein, editor . - Boston : Birkhauser, 2009 . - xxviii, 391p. - (Statistics for Industry and Technology) . ISBN 978-0-8176-4748-3. Incluye referencias bibliográficas e índice. Clasificación: 519.53

Contenido :

• Joseph Naus : Father of the Scan Statistic / Sylvan Wallenstein
• Precedence-type Tests for the Comparison of Treatments with a Control / Narayanaswamy Balakrishnan
• Extreme Value Results for Scan Statistics / Michael V. Boutsikas
• Boundary Crossing Probability Computations in the Analyis of Scan Statistics / Hock Peng Chan
• Approximations for wo-Dimensional Variable Window Scan Statistics / Jie Chen
• Applications of Spatial Scan Statistics : a Review / Marcelo Azevedo Costa
• Extensions of the Scan Statistic for teh Detection and Inference of Spatial Clusters / Luiz Duczmal
• 1-Dependent Stationary Sequences and Applications to Scan Statistics / George Haiman
• Scan Statistics in Geneme-Wide Scan for Complex Trait Loci / Josephine Hoh
• On Probabilities for Complex Switching rules in Sampling Inspection / W. Y. W. Lou
• Bayesian network Scan Statistics for Multivariate Pattern Detection / Daniel B. Neill
• ULS Scan Statistics for Hotspot Detection with Continuous gamma Response / Ganapati P. Patil
• False Discovery Control for Scan Clustering / Marco Perone-Pacífico
• Martingale Methods for Patterns and Scan Statistics / Vladimir Pozdnyakov
• How Can pattern Statistics Be Useful for DNA Motif Discovery? / Sophie Schbath
• Occurrence of patterns and Motifs in Random Strings / Valeri T. Stefanov
• Detection of Disease Clustering / Toshiro Tango

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